Nhóm tác giả Đặng Thiện Ngôn, Lê Chí Cương (ĐH Sư Phạm TP.HCM) trình bày kết quả nghiên cứu, thử nghiệm công nghệ chế tạo chi tiết mẫu với mối ghép hàn có khuyết tật ngậm xỉ bằng phương pháp SMAW (hàn hồ quang tay với que hàn có vỏ bọc).

Chi tiết mẫu mối ghép hàn có khuyết tật ngậm xỉ được sử dụng rộng rãi trong công tác nghiên cứu các khuyết tật hàn, và phục vụ cho việc đào tạo kỹ thuật viên kiểm tra khuyết tật mối hàn bằng phương pháp kiểm tra không phá hủy (NDT). Việc chế tạo chi tiết mẫu với khuyết tật ngậm xỉ chỉ có thể phát hiện bằng phương pháp kiểm tra NDT là một công việc khó khăn, yêu cầu phương pháp điều khiển các thông số hàn. Nhóm tác giả Đặng Thiện Ngôn, Lê Chí Cương (ĐH Sư Phạm TP.HCM) đã đề xuất và nghiên cứu thử nghiệm công nghệ chế tạo chi tiết mẫu với mối ghép hàn có khuyết tật ngậm xỉ bằng phương pháp SMAW (hàn hồ quang tay với que hàn có vỏ bọc).

Công nghệ được đề xuất là công nghệ hàn với kỹ thuật "tạo hốc bẫy xỉ" sử dụng phương pháp hàn SMAW. Kỹ thuật hàn được thực hiện theo tiêu chuẩn AWS. Khuyết tật ngậm xỉ của chi tiết mẫu được kiểm tra, đánh giá bằng phương pháp kiểm tra siêu âm và X-quang.

Kết quả cho thấy, các khuyết tật ngậm xỉ được tạo ra tương tự như các khuyết tật tự nhiên. Sự phù hợp về kích thước, vị trí của khuyết tật ngậm xỉ trên các chi tiết thí nghiệm so với thiết kế cho thấy quy trình công nghệ đề xuất có khả năng lặp lại cao. Công nghệ đề xuất đáp ứng các yêu cầu theo tiêu chuẩn AWS và có hiệu quả trong việc chế tạo các chi tiết mẫu có khuyết tật ngậm xỉ phục vụ đào tạo và nghiên cứu.